我們知道電子產(chǎn)品在出廠之前都需要進(jìn)行電磁的兼容性測(cè)試，而靜電測(cè)試是電磁兼容測(cè)試中非常重要的測(cè)試內(nèi)容之一，電子產(chǎn)品在靜電測(cè)試中的測(cè)試點(diǎn)很多，通常需要花費(fèi)測(cè)試人員大量的時(shí)間和精力，而靜電測(cè)試治具就是為方便電子產(chǎn)品進(jìn)行靜電測(cè)試和節(jié)省測(cè)試時(shí)間的治具設(shè)備。

1、靜電測(cè)試治具主要用于輔助靜電測(cè)試設(shè)備對(duì)待測(cè)設(shè)備進(jìn)行靜電測(cè)試，該測(cè)試治具主要包括靜電測(cè)試板、若干垂直于靜電測(cè)試板的靜電導(dǎo)管，每一靜電導(dǎo)管的第二段設(shè)有靜電探針，靜電測(cè)試板，靜電導(dǎo)管和靜電探針均有具有導(dǎo)電性能的材質(zhì)制成。

2、當(dāng)靜電測(cè)試治具對(duì)待測(cè)設(shè)備進(jìn)行靜電測(cè)試時(shí)，需要將測(cè)試治具上的靜電探針和待測(cè)設(shè)備上的靜電測(cè)試點(diǎn)接觸，確保靜電測(cè)試槍在靜電測(cè)試板中心處釋放靜電，所釋放的靜電經(jīng)過(guò)靜電測(cè)試板、靜電導(dǎo)管和靜電探針接入到待測(cè)設(shè)備內(nèi)，從而完成待測(cè)設(shè)備的靜電性能測(cè)試。

云茂設(shè)計(jì)的靜電測(cè)試治具通過(guò)多個(gè)靜電探針和待測(cè)設(shè)備上的多個(gè)靜電測(cè)試點(diǎn)接觸，可以使多個(gè)靜電測(cè)試點(diǎn)同時(shí)進(jìn)行靜電測(cè)試，從而節(jié)省了測(cè)試時(shí)間和人力成本。